日本yokowods測試夾新型涉及電測試儀用的測試夾，包括殼體、微動開關(guān)、測試電極等，其特點是二內(nèi)空的條狀殼體的前端分別設(shè)有向外伸出的電極，其中一殼體內(nèi)設(shè)微動開關(guān)，它們的電源線穿過殼體內(nèi)腔從其后端引出，殼體后端相互活動鉸接，二殼體相對面前部附近設(shè)有一彈性回復(fù)機構(gòu)使其前部可相互靠近或分開，微動開關(guān)的按鈕伸出于一殼體內(nèi)壁之外，與之對應(yīng)在另一殼體內(nèi)壁上設(shè)有頂桿。
數(shù)字IC芯片在線/離線功能測試
⑴[測試過程]
測試儀對被測數(shù)字IC芯片施加相應(yīng)的測試代碼，再從被測器件取回實際響應(yīng)。通過將實際響應(yīng)和預(yù)期響應(yīng)進行對比，可發(fā)現(xiàn)功能失效的故障器件。
⑵日本yokowods測試夾[在線測試]
使用測試夾卡住電路板上的被測IC芯片，依照器件在電路板上的實際自身連接關(guān)系自動生成測試代碼，直觀顯示"自身連接"和"功能好壞"等測試信息，以及每一輸出管腳所對應(yīng)的"測試代碼、實際響應(yīng)和預(yù)期代碼"，測試高效，便于全面分析。
⑶[離線測試]
使用離線測試盒對單個數(shù)字IC芯片進行功能測試，由于沒有在線因素的影響，故而測試結(jié)果最為準確